# 内部空洞のX線検査完全ガイド

> ソース: https://voltgrids.com/ja/blog/a-complete-guide-to-x-ray-inspection-for-internal-voids/
> Published: 2026-03-27T05:14:28+00:00
> Modified: 2026-05-13T07:20:51+00:00
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## 概要

この包括的なガイドでは、X線検査によって固体絶縁埋込型電柱の内部空隙を特定し、致命的な絶縁破壊を防止する方法について説明します。X線検査を品質保証プログラムに組み込み、画像を解釈して、従来の部分放電試験では見逃される可能性のある欠陥を検出する方法を学びます。高度な非破壊検査を通じて配電の信頼性を向上させるための技術的枠組みを提供します。.

## Media

- YouTube: https://youtu.be/2F7aJQfCFE0
- SoundCloud: https://soundcloud.com/bepto-247719800/a-complete-guide-to-x-ray/s-2CYvbRPov39?si=6036fad42d4f42109abcd1a73562164d&utm_source=clipboard&utm_medium=text&utm_campaign=social_sharing

## 記事

![ソリッド絶縁埋め込みポール](https://voltgrids.com/wp-content/uploads/2026/01/Solid-insulation-Embedded-Pole.jpg)

[ソリッド絶縁埋め込みポール](https://voltgrids.com/ja/product-category/air-insulation-series/solid-insulation-embedded-pole/)

## はじめに

中電圧配電において、固体絶縁埋込電柱の最も危険な欠陥は目に見えないものです。直径0.5 mmの鋳造空隙は、目視検査では見えず、表面検査でも検出できず、製造当日の電源周波数耐力試験にも合格しますが、使用電圧下で部分放電を起こし、数ヶ月から数年かけて周囲のエポキシ樹脂を侵食し、最終的に配電盤の絶縁破壊を引き起こす可能性があります。従来の品質検査で検出されるものと、鋳造APGエポキシボディの内部に実際に存在するものとの間のギャップは、X線検査が埋めることができます。その直接的な答えがこれです。工業用X線X線透視検査は、固体絶縁埋込型電柱のエポキシ鋳造体内の内部ボイド、介在物、剥離、導体のズレを直接画像化できる唯一の非破壊検査方法であり、構造化された品質保証プログラムに組み込むことで、鋳造欠陥の検出を確率的推論から直接的な目視確認へと変えます。このガイドは、配電技術者が埋込電柱の調達に必要な品質要件を指定する際や、トラブルシューティング技術者が設置されたユニットの部分放電異常を調査する際に、固体絶縁封止部品のX線検査に関する完全な技術的枠組みを提供します。.

## 目次

- [なぜ固体絶縁埋込電柱の内部空隙は配電システムにとって危険なのか？](#why-are-internal-voids-in-solid-insulation-embedded-poles-so-dangerous-for-power-distribution-systems)
- [鋳造APGエポキシ封止部品のX線検査とは？](#how-does-x-ray-inspection-work-for-cast-apg-epoxy-encapsulated-parts)
- [埋込みポールの品質保証プログラムにX線検査をどのように組み込むべきか？](#how-should-x-ray-inspection-be-integrated-into-a-quality-assurance-programme-for-embedded-poles)
- [X線画像をどのように解釈し、所見と誘電検査結果をどのように関連付けるか？](#how-do-you-interpret-x-ray-images-and-correlate-findings-with-dielectric-test-results)

## なぜ固体絶縁埋込電柱の内部空隙は配電システムにとって危険なのか？

![固体断熱材を埋め込んだポールの巨視的断面図。メイン画像はAPGエポキシ断熱材が見えるポールの切断面。エポキシ内の直径0.3mmの空隙の詳細を拡大した挿入図。矢印と光る線は、絶縁体を通して枝分かれする紫色の部分放電のツリー効果をもたらす電界集中（4x E_bulkと表示）を視覚化している。別の図解アイコンと図が、浸食カスケードと誘電率ミスマッチのメカニズムを詳細に示している。.](https://voltgrids.com/wp-content/uploads/2026/03/Visualizing-the-Partial-Discharge-Hazard-Initiated-by-Internal-Voids-in-APG-Epoxy-Insulation-1024x687.jpg)

APGエポキシ絶縁の内部空隙が引き起こす部分放電の危険性の可視化

X線検査の方法を検討する前に、なぜAPGエポキシ樹脂の鋳造体に内部空洞が生じると配電の信頼性が大きく損なわれるのか、そしてなぜ空洞の検出には専用の検査技術が必要なのかを正確に理解する必要があります。.

### ボイドによる部分放電の物理学

ソリッド絶縁埋込ポールのエポキシ本体内に空洞（空気で満たされた空洞）が存在すると、絶縁システム全体の電界分布が歪む。そのため [空気の比誘電率](https://ieeexplore.ieee.org/document/8713098)[1](#fn-1) (εr≈1.0\Γ Γ Γ Γ Γ Γ Γ Γ 1.0)は、硬化したAPGエポキシ樹脂(εr≈4.0−5.0\4.0 - 5.0).この誘電率の不一致により、電場は関係式に従って空隙内に集中する：

Evoid=εepoxyεair×Ebulk≈4×EbulkE_{void} = \frac{varepsilon_{epoxy}}{varepsilon_{air}}\times E_{bulk}\約4倍 E_{bulk｝

したがって、空隙内部の電界は、周囲のエポキシ中のバルク電界の約4倍となります。約 7 kV の対地間電圧で動作する 12 kV クラスの埋め込みポールの場合、高電界ゾーンに位置する空隙は、その中の空気をイオン化するのに十分な局所的な電界強度を経験する可能性があり、定格耐圧レベルをはるかに下回る電圧で部分放電を開始します。.

### 部分放電浸食カスケード

空隙内で部分放電が始まると、浸食プロセスは自己加速的に進行する：

1. イオン化段階：空隙内の空気が集中電界によってイオン化され、紫外線、オゾン、反応性窒素化合物が生成される。
2. 化学的攻撃段階：オゾンと反応種が空隙を囲むエポキシ樹脂壁を攻撃し、ポリマーマトリックスを化学的に分解する。
3. ボイド成長段階：化学的劣化によりボイドが拡大し、イオン化したガスの体積が増加し、その後の放電の強度が増加する。
4. ツリー化段階：放電チャンネルがエポキシ樹脂の中を電気的なツリーとして伝播し始め、接地された外表面に向かって伸びる。
5. 絶縁破壊段階：放電ツリーが絶縁体の全厚さに及ぶと、絶縁破壊が発生する。

ボイド形成から絶縁破壊に至るスケジュールは、ボイドの大きさ、位置、使用電圧によって異なりますが、高電界領域で0.3mmを超えるボイドの場合、PDの発生から絶縁破壊までの進行は、定格電圧での連続運転で2～5年以内に起こる可能性があります。.

### APG鋳造におけるボイド形成メカニズム

APGの製造工程でボイドがどのように形成されるかを理解することは、X線検査結果を解釈する上で不可欠です：

| ボイド形成のメカニズム | ボイドの特徴 | X線写真 | リスクレベル |
| 樹脂射出時の空気の巻き込み | 球状または不規則、ランダムな分布 | 暗い円形または不規則な斑点 | 高野連の場合は高い |
| 硬化中の収縮ボイド | 導体表面近くに位置し、細長い。 | 金属界面の暗い細長い特徴 | 非常に高い - 最も高いフィールドゾーン |
| 湿気によるボイド | クラスター、小径 | クラスターに複数の小さな暗点 | 中 - 密度による |
| 導体界面の剥離 | 平面、導体形状に従う | 導体表面に平行なダークバンド | 非常に高い - インターフェースゾーン |
| 異物混入（コンタミネーション） | 形状可変、エポキシより高密度 | 明るいスポット（金属性）または暗いスポット（有機性） | 中～高 |

### コア技術パラメーター - 空洞検出コンテキスト

| パラメータ | 価値 | 空洞検出との関連性 |
| 最小検出空隙（X線） | 直径0.1～0.3mm | ほとんどの地域でPD開始基準値以下 |
| PD開始ボイドサイズ（高磁場ゾーン） | ~0.3 mm | PD閾値に達する前にX線が検出 |
| エポキシ比誘電率 | 4.0-5.0 | 空隙に電界を集中させる |
| PD受入基準（IEC 60270） | ≤ 5 pC | PD閾値以下の空隙が電気テストに合格 |
| X線検出機能 | 0.1-0.3 mm | サブスレッショルドのボイドを検出 電気テストは見逃す |

PD開始閾値以下のボイドは通過する。 [IEC 60270部分放電試験](https://webstore.iec.ch/publication/1210)[2](#fn-2) しかし、X線検査では検出可能です。X線検査とPD検査は補完的なものであり、冗長なものではありません。X線検査は、PD検査で検出できる大きさになる前に欠陥を検出します。.

## 鋳造APGエポキシ封止部品のX線検査とは？

![L字型の褐色APGエポキシ絶縁体の工業用切断可視化図。断面図から、エポキシ本体を垂直に貫く内部銅導体が見える。L字型に曲がった部分を拡大すると、導体とエポキシの界面に微小な空洞があり、紫/青の部分放電のツリーパターンが見える。オーバーレイアイコンはX線で検出可能なダークスポットを示す。高精細で写実的、技術的なラベルは英語、背景は白。.](https://voltgrids.com/wp-content/uploads/2026/03/Visualizing-the-Internal-Voids-and-Partial-Discharge-Path-Within-a-Solid-Insulation-Embedded-Pole-1024x687.jpg)

固体絶縁埋込柱内の内部空隙と部分放電経路の可視化

産業用X線検査では、医療用X線検査と同じ基礎物理学を使用しますが、金属部品が埋め込まれた鋳造エポキシ組立品の密度と形状に最適化された装置とパラメータを使用します。.

### エポキシ鋳物のX線検査物理学

X線は、ビア・ランバートの法則に従って物質を透過する際に減衰する：

I=I0×e−μρxI = I_0 \times e^{-mu \rho x}.

どこでだ：

- I0I_0 = 入射X線強度
- II = 透過強度
- μ\Μετεώγραμμα = 質量減衰係数（材料依存）
- ρ\ΡΡΡρρρρρρρρρρ ＝材料密度
- xx = 材料の厚さ

固体絶縁体埋め込みポールでは、X線ビームは密度の大きく異なるゾーンを通過する： [銅導体 (密度 ~8.9 g/cm³)](https://www.matweb.com/search/DataSheet.aspx?MatGUID=9aebe83845c04c1db5126fada6f76f7e)[3](#fn-3), APGエポキシ樹脂（密度～1.8～2.0g/cm³）、およびボイド（密度～0.001g/cm³、空気）。エポキシと空気の密度比は約1800:1であり、優れたボイド検出感度が得られます。銅とエポキシの密度コントラストは、導体がX線透視画像上で明るい（高減衰）特徴として見える一方で、ボイドは暗い（低減衰）特徴として見えることを意味します。.

### 埋設ポール検査のための機器選定

X線源の選択：

- 電圧範囲12-40.5kVクラスの埋込ポール用160-320kV - より高い電圧クラスのユニットは、より高い貫通エネルギーを必要とする厚いエポキシ壁を有する。
- 焦点サイズ：標準検査では≤1.0 mm、0.5 mm以下のボイド検出では≤0.4 mm（マイクロフォーカス
- ソースの種類コンスタントポテンシャルX線管は、安定した画質を得るためにパルスソースよりも好ましい。

検出器の選択：

- デジタル・フラットパネル検出器（FPD）：リアルタイムイメージング、デジタルストレージ、幾何学的補正機能。
- イメージングプレート付きコンピューテッドラジオグラフィー（CR）：現場検査や少量のアプリケーションに最適
- フィルムX線撮影：レガシーメソッド：アーカイブ目的には使用できるが、ダイナミックレンジはデジタルシステムに劣る。

幾何学的パラメータ：

- 光源から被写体までの距離（SOD）：幾何学的なアンシャープネスを抑えるため、最低600 mm
- 物体-検出器間距離（ODD）：倍率のブレを少なくするために最小にする - 理想は50mm以下
- 幾何学的拡大倍率：SOD/(SOD-ODD)-標準検査で1.05～1.2倍を目標とする。

### ソリッド絶縁埋込ポールの検査方向

1つのX線透視投影は、3次元の対象物の2次元投影を提供する。空隙は、特定の方向で重なり合った高密度な特徴（導体アセンブリ）によって不明瞭になることがある。完全な検査プロトコルには、最低3つの直交投影が必要です：

| 投影 | オリエンテーション | 一次検出ターゲット |
| プロジェクション1（AP） | 極軸を通る前後 | エポキシボディのボイド、導体のアライメント |
| プロジェクション2（横方向） | プロジェクション1から90°回転 | AP図では見えないボイド、界面剥離 |
| プロジェクション3（アキシャル） | ポール軸沿い（エンドオン） | 導体周辺の円周ボイド、収縮パターン |
| プロジェクション4（斜め、オプション） | APから45 | 導体エンドキャップのインターフェイスゾーンボイド |

### 複雑な形状のコンピュータ断層撮影（CT）

複数の導体経路、一体化された変流器コア、非対称の真空遮断アセンブリなど、複雑な内部形状を持つ埋込み極の場合、二次元X線撮影では、合否判定に必要な精度でボイドの位置とサイズを特徴付けるには不十分な場合があります。工業用CT（コンピュータ断層検査）は、数百のX線投影画像を回転角度を増加させながら取得し、鋳物の完全な3次元体積画像を再構成します。CTには以下の特長があります：

- 導体およびエポキシ表面に対する正確な3次元ボイド座標
- 正確なボイド量測定
- 孤立ボイドと連結ボイドネットワークの明確な区別
- 界面剥離範囲の明確な特定

CT検査は、二次元X線透視検査よりもはるかに時間と費用がかかるため、日常的な生産検査よりも、型式認定試験、故障解析、重要度の高いユニットの受入検査に適している。.

顧客事例 - 配電機器メーカー 品質監査：
北欧の配電網運営会社は、大規模な送電網近代化計画で使用される固体絶縁埋込型電柱のサプライヤー適格性審査を実施していました。この事業者の仕様では、供給されたユニットの100%をX線検査する必要がありました。監査中、Beptoの品質チームは24kVクラスの埋込ポールの製造バッチでX線検査プロトコルを実演しました。検査した20ユニットのうち、18ユニットは受け入れ基準値を超えるボイドが検出されず、合格となりました。2つのユニットには、真空遮断器エンドキャップに隣接する高磁場ゾーンに位置する長さ約0.8 mmの軸方向投影で、導体とエポキシの界面に収縮ボイドが見られました。両ユニットをIEC 60270に基づくPD試験にかけたところ、1つは8pC（ボーダーライン）、もう1つは3pC（合格）のPDを示した。このX線所見は、PDの結果にかかわらず、両ユニットを不合格にすることを促した。なぜなら、最高磁場ゾーンの空隙位置は、受け入れがたい長期信頼性リスクに相当するからである。ネットワーク事業者の調達エンジニアはこう指摘する： *“「PDテストでは、そのうちの1台がグリッドに接続されるはずだった。5年間の故障と25年間の資産の違いです」。”*

## 埋込みポールの品質保証プログラムにX線検査をどのように組み込むべきか？

![近代的な製造施設に設置されたロボットX線ステーションが、茶色の埋め込みポールをアクティブにスキャンしているマクロ写真（image_4.pngのようなもの）。大きな透明スクリーンに映し出された、流れるような統合デジタル品質保証ライフサイクルチャート。X線検査（工程適格性確認、製造サンプリング、受入ゲート、故障調査）が「部分放電（PD）検査（IEC 60270）」、それに続く「合否判定」、「最終受入」にどのように直結しているかを視覚化している。光っている線はデータとプロセスの流れを表し、データのオーバーレイはサンプリングレートを示している。画像に人は写っていない。.](https://voltgrids.com/wp-content/uploads/2026/03/Integrated-Quality-Assurance-Workflow-with-Integrated-X-Ray-and-PD-Testing-for-Embedded-Poles-1024x687.jpg)

埋込みポールのX線検査とPD検査を統合した統合品質保証ワークフロー

X線検査は、単独の検査としてではなく、構造化された品質保証プログラムに組み込まれることで、最大の価値を発揮します。以下のフレームワークでは、配電用途の固体絶縁埋込電柱のQAライフサイクル全体におけるX線検査の位置付けを定義しています。.

### ステージ1：プロセス適格性確認X線（APGプロセス開発）

生産開始前に、工程認定鋳物のX線検査を行うことで、APG射出パラメータ（樹脂温度、射出圧力、ゲル時間、硬化サイクル）により、埋込み極形状の全範囲にわたってボイドのない鋳物が得られることが検証されます。工程認定用X線検査には以下が含まれます：

- 製造金型1個につき電圧クラスごとに最低5個の鋳造品
- 全資格鋳物の完全CT検査
- ボイドマッピングにより、プロセスパラメータの最適化の必要性を示す体系的なボイド位置を特定。
- 合格基準：高磁場ゾーンで0.3mm以上のボイドなし、界面剥離なし

### 第2段階：生産サンプリングX線検査（継続的品質管理）

日常的な生産においては、全ユニットの100% X線検査が最高の品質基準であるが、すべての供給状況において経済的に正当化されるとは限らない。確立された生産工程では、リスクベースのサンプリング手法が適切である：

| 供給の背景 | 推奨X線サンプリングレート | 根拠 |
| 新規サプライヤー資格 | 最初の3生産ロットの100% | プロセス能力ベースラインの確立 |
| クリティカル配電（送電接続型） | 全ユニットの100% | ボイドに関連する故障の許容度はゼロ |
| 標準配電開閉装置 | 20% バッチごとのランダムサンプリング | 品質とコストのバランス |
| 適格なサプライヤーからのリピート供給 | 10% バッチごとのランダムサンプリング | プロセス・モニタリングの維持 |
| 後工程の変更（新しい樹脂バッチ、金型の修理） | 変更後第1バッチの100% | 変更後のプロセスを再検証する |

### 第3段階：受入X線検査（調達品質ゲート）

配電事業者が外部サプライヤから固体絶縁埋込ポールを調達する場合、商品受領時のX線検査は、サプライヤの自己認証に依存しない独立した品質ゲートを提供します。受入X線検査プロトコル

1. サンプルの選択：合意されたサンプリング計画による無作為抽出-発注書に明記
2. 検査基準参考 [IEC 62271-100](https://webstore.iec.ch/publication/60122)[4](#fn-4) およびサプライヤー内部のX線受入基準
3. 最小の投影：1ユニットにつき3つの直交投影
4. 受入基準：次のセクションで定義される空洞分類システムによる。
5. バッチ処理：サンプリング計画受入番号に基づくバッチの受入/拒否決定

### ステージ4：故障調査X線検査（トラブルシューティング）

使用中の固体絶縁埋込型電柱にPDレベルの上昇、熱異常、誘電体不良が発生した場合、故障したユニットまたは疑わしいユニットのX線検査は、原因となった内部欠陥の直接的な証拠を提供する。故障調査のX線検査には、以下のものが含まれる：

- フルCT検査による欠陥の3次元的特性評価
- 特定電圧クラスの電界分布モデルとボイド位置の相関性
- 工場出荷時のX線記録との比較（可能な場合
- サプライヤーの保証請求または設計改善措置のための文書

### X線QA統合フローチャート

### APG鋳造品質検査フロー

APGキャスティング完了

目視検査（100%）

X線検査（サンプリング計画）

閾値を超えてボイドが検出されたか？

イエス

リジェクト／スクラップ

ノー

PDテスト（IEC 60270）

PD ≤ 5 pC?

イエス

受け入れる

接触抵抗試験

最終検収・出荷

ノー

却下

## X線画像をどのように解釈し、所見と誘電検査結果をどのように関連付けるか？

固体絶縁埋込ポールのX線画像解釈には、ボイドの特性（サイズ、位置、形態）を誘電リスクや合否判定と関連付ける構造化された分類システムが必要である。.

### ゾーン・ベースのボイド分類システム

空隙の誘電リスクは、埋込電柱の電界分布内の位置に決定的に依存する。同じ大きさのボイドでも、それが導体に隣接する高電界ゾーンにあるか、外側のエポキシ表面に近い低電界ゾーンにあるかによって、リスクは大きく異なります。.

ゾーンの定義

| ゾーン | 所在地 | フィールド強度 | ボイド・リスク・レベル |
| ゾーンA - クリティカル | 導体表面またはインターラプタ・エンド・キャップから 3 mm 以内 | 非常に高い（ピーク電界80%以上） | クリティカル - ゼロ・トレランス |
| ゾーンB - 高 | 導体表面から3～10 mm | 高（ピーク電界50～80%） | 高 - 厳格なサイズ制限 |
| ゾーンC - 中 | 導体表面から10～20 mm | 中（ピーク磁場20～50%） | ミディアム - 中程度のサイズ制限 |
| ゾーンD - 低 | >導体表面（外側のエポキシゾーン）から20mm以上 | 低い（ピークフィールドの | 低 - 寛大なサイズ制限 |

### ゾーン別ボイド許容基準

| ゾーン | 最大許容ボイド径 | 最大許容ボイド数 | 界面剥離 |
| ゾーンA（クリティカル） | ゼロ・トレランス - 検出可能な空隙 | ゼロ | ゼロ・トレランス |
| ゾーンB（高） | 0.3 mm | エポキシ量100 cm³につき1個 | ゼロ・トレランス |
| ゾーンC（中） | 0.8 mm | エポキシ量100 cm³あたり3個 | ≤ 2 mm² 面積 |
| ゾーンD（低） | 1.5 mm | エポキシ量100 cm³あたり5 | ≤ 5 mm² 面積 |

### X線所見とPD検査結果の関連性

X線検査とPD検査は、鋳造品質に関する補完的な情報を提供する。X線所見とPD検査結果の相関は予測可能なパターンに従う：

| X線所見 | 期待されるPDの結果 | 解釈 | アクション |
| 検出可能なボイドなし | PD ≤ 5 pC | ボイドフリー鋳造、完全な誘電性 | 受け入れる |
| ゾーンDの空隙、≤1.5 mm | PD ≤ 5 pC | PD閾値以下の低磁場ボイド | モニタリング・ノート付きで受理 |
| ゾーンCのボイド、0.5～0.8mm | PD 3-8 pC | PD閾値境界の中程度のフィールドボイド | 再検査；PD≦5pCが確認されれば合格 |
| ゾーンBボイド、サイズ不問 | PD 5-20 pC | PDを開始する高磁場ボイド | PDレベルに関係なく却下 |
| ゾーンA空隙、サイズ不問 | PDは変動する-当初は低いかもしれない | クリティカルゾーン - PDはサービス時間と共に増加する | 拒否 - ゼロ・トレランス |
| 界面剥離 | PD 10-50 pC | 最高磁場ゾーンの平面的空隙 | 直ちに拒否する |

### X線画像を読む主な視覚指標

許容できる鋳造品質を示す特徴：

- 局所的な黒点のない均一なグレートーンのエポキシボディ
- ダーク・ハロー（層間剥離の指標）のない、シャープで明確な導体外形。
- ボイドが存在する場合、ボイド分布は対称 - 非対称なクラスタリングはプロセスに問題があることを示す。
- エポキシゾーンに輝点（金属介在物）がない。

即座の拒否を必要とする特徴：

- 導体表面に沿ったダークバンドまたは不規則なダークゾーン-界面剥離
- ゾーンAまたはBにある小さな暗点のクラスター - 水分に起因するボイドのクラスター
- ゾーンAに単一の大きな暗点（0.3mm以上）-クリティカルゾーンの収縮ボイド
- エポキシゾーンの輝点-金属汚染（導電性インクルージョンが電界集中を起こす）
- 軸方向投影で見える導体のズレ - 非対称な電界分布

### 避けるべき解釈の誤り

- ゾーンAのボイドを小さなサイズに基づいて受け入れる - ゾーンAのゼロ許容基準は絶対的なものである。
- X線検査とPD検査を冗長検査として扱う - PD検査に合格したユニットでも、X線検査で長期信頼性リスクを示すゾーンCまたはDのボイドが検出される可能性がある。
- 軸方向投影における導体アライメントの無視 - 二次元投影では軽微に見える導体アライメントのずれが、絶縁壁の片側に応力を集中させる重大な電界の非対称性を生み出す可能性がある。
- ある投影では導体の影に隠れて見えなかった空洞が、直交する投影でははっきりと見えることがある。

![クリーンなデジタルインターフェースの背景に描かれた高解像度の工業用ダイアグラム。埋設された電柱のグレースケールのX線画像と、色分けされたクリティカルゾーン（赤：クリティカルA、オレンジ：ハイB、黄：ミディアムC、緑：ローD）を比較している。各ゾーンでは空洞が強調表示されている。隣接して「X線空隙と部分放電（PD）検査の相関」と題された構造化されたデータ表があり、X線所見、予想されるPD結果、解釈、処置の正確な列を備え、「ゾーンA空隙（あらゆる大きさ）」や「ゾーンB空隙（0.3mm以下）」のような特定の所見を「不合格」または「合格」の決定に結びつけている。テキストはすべて100%の正しい英語である。人影はない。.](https://voltgrids.com/wp-content/uploads/2026/03/X-Ray-Void-Classification-and-Dielectric-Test-Correlation-1024x687.jpg)

X線ボイド分類と誘電体試験の相関性

## 結論

X線検査による固体絶縁埋込ポールの内部空洞検査は、オプションの品質向上ではありません。電気検査で検出できるサイズまで欠陥が成長する前に、APGエポキシ鋳造体の内部状態を直接画像化できる唯一の非破壊検査方法です。完全なX線検査プログラムは、工程認定CTスキャン、リスクベースの製造サンプリングX線検査、調達受入検査、および故障調査CTを構造化された品質保証フレームワークに統合し、従来の電気検査が明らかにするものと鋳物内部に実際に存在するものとの間の検出ギャップを埋めます。このガイドに記載されているゾーンベースの空洞許容基準、3つの投影による最小検査プロトコル、およびX線とPDの相関フレームワークは、配電エンジニアと調達マネージャーに、中電圧配電の信頼性が要求する厳密さでX線検査を指定、実行、解釈するための技術的基盤を提供します。ベプトエレクトリックでは、X線検査を固体絶縁埋込型電柱の製造品質保証プログラムに組み込んでおり、検査記録は個々のユニットのシリアル番号まで追跡可能で、完全な品質文書パッケージの一部として利用できます。.

## 固体絶縁体埋設電柱のX線検査に関するFAQ

### Q:工業用X線検査で、固体絶縁体埋込極APGエポキシ鋳物で検出できる最小空隙サイズはどのくらいですか。また、これは部分放電検出の閾値と比較してどうですか。

A: マイクロフォーカス光源を使用した工業用X線検査では、APGエポキシ鋳物の直径0.1～0.3 mmのボイドを検出できます。IEC 60270に基づく部分放電試験では、通常、高磁場ゾーンで約0.3～0.5 mm以上のボイドが検出されます。したがって、X線検査はPD検査に合格する閾値以下のボイドを検出します。この2つの方法は、完全な品質保証プログラムにおいて冗長ではなく補完的なものとなります。.

### Q: 堅固な絶縁体が埋め込まれた電柱の完全な検査には何回のX線投影が必要ですか。

A: 前後方向、横方向（90°回転）、軸方向（エンドオン）の最低3つの直交投影が必要です。単一投影では、3次元の対象物の2次元の影しか得られません。ある方向では導体アセンブリの後方にある空洞が、直交投影でははっきりと見えることがあります。単一投影検査は、検査を無効にする体系的な不感帯を作成します。.

### Q: IEC 60270 の部分放電試験に合格しても、ゾーン D（外側エポキシ、低磁場ゾーン）で X 線により空隙が検出された固体絶縁埋込電柱は不合格とすべきか。

A: 必ずしもそうではない。5 pC 以下の PD 試験に合格した 1.5 mm 未満のゾーン D のボイドは、品質記録に監視記録 を記載することで合格とすることができる。ゾーンに基づく受入基準は、低磁場ゾーンのボイドはゾーンAまたはBの同等のボイドよりも誘電リ スクが大幅に低いことを認めている。.

### Q: 固体絶縁物埋込ポールの検査において、二次元X線X線撮影の代わりにCT（コンピュータ断層撮影）を指定するのはどのような場合ですか？

A: CTは、新しい埋込型電柱設計の型式認定試験、使用中にPD異常や誘電体異常が発生したユニットの故障調査、二次元投影ではボイドの位置と範囲を明確に特定できない複雑な内部形状を持つユニットの受入検査に指定されるべきである。CTは、二次元X線撮影では得られない三次元の空洞座標と体積測定を提供します。.

### Q: 重要な配電網のアップグレードに使用される固体絶縁埋込電柱の調達契約において、X線検査のサンプリング率はどのように指定されるべきでしょうか？

A: 送電線に接続された変電所、高負荷率の配電フィーダー、または交換間隔の長い送電網の近代化計画など、重要な配電用途の場合は、供給される全ユニットの100% X線検査を指定してください。100%検査にかかるコストは、配電ネットワークで誘電体不良が発生した場合のコストに比べればごくわずかであり、空隙欠陥のあるユニットが設置されないことを唯一完全に保証するものです。.

1. “「エポキシ樹脂の誘電特性”、, `https://ieeexplore.ieee.org/document/8713098`. .絶縁材料の誘電率を空気と比較した研究。証拠の役割：材料特性; 資料の種類：研究。サポート：空気の比誘電率はエポキシより著しく低い。. [↩](#fnref-1_ref)
2. “「IEC 60270：高電圧試験技術-部分放電測定」、, `https://webstore.iec.ch/publication/1210`. .部分放電測定手順としきい値に関する国際規格。エビデンスの役割: 標準; 出典の種類: 標準.サポート：IEC 60270 部分放電試験。. [↩](#fnref-2_ref)
3. “「銅の素材特性, `https://www.matweb.com/search/DataSheet.aspx?MatGUID=9aebe83845c04c1db5126fada6f76f7e`. .銅の密度および物理的特性の詳細を記載した技術データシート。証拠の役割：技術的パラメータ; 資料の種類：産業.サポート：銅の導体密度は約8.9 g/cm³です。. [↩](#fnref-3_ref)
4. “「IEC 62271-100：高圧開閉装置及び制御装置」、, `https://webstore.iec.ch/publication/60122`. .高圧開閉器構成部品の試験および受入基準を定義している。エビデンスの役割：規格；出典のタイプ：規格。サポート：検査規格の IEC 62271-100 を参照。. [↩](#fnref-4_ref)